芯片老化恒溫恒濕箱高低溫老化測(cè)試設(shè)備廠家

一、芯片老化恒溫恒濕箱高低溫老化測(cè)試設(shè)備廠家特點(diǎn)：

   高低溫試驗(yàn)箱采用*觸摸屏式人機(jī)介面溫度控制器，*全封閉式壓縮機(jī)，整機(jī)性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便，易于安裝，控制技術(shù)達(dá)到目前水平、性價(jià)比明顯優(yōu)于同類進(jìn)口設(shè)備，是進(jìn)行高低溫交變的理想設(shè)備。

二、芯片老化恒溫恒濕箱高低溫老化測(cè)試設(shè)備廠家用途：

   高低溫試驗(yàn)箱又名環(huán)境試驗(yàn)箱，試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材等工廠之用。高低溫交變?cè)囼?yàn)箱采用*人機(jī)介面溫度控制器，性能可靠，操作簡(jiǎn)便，控制技術(shù)達(dá)到目前水平、性價(jià)比明顯優(yōu)于同類進(jìn)口設(shè)備，是進(jìn)行交變濕熱試驗(yàn)的理想設(shè)備。

三、電路板高低溫測(cè)試箱規(guī)格（單位:mm）：（可按客戶要求定做更大尺寸）
型號(hào) CK-80G  內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：650×1500×950
型號(hào) CK-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：750×1600×1050
型號(hào) CK-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1000×1650×1200
型號(hào) CK-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1100×1750×1400
型號(hào) CK-800G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400
型號(hào) CK-1000G內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600

四、電路板高低溫測(cè)試箱技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤&plsmn;2℃ (空載時(shí))
3、溫度波動(dòng)度：&plsmn;0.5℃ (空載時(shí))
4、溫度偏差:≤&plsmn;2℃
5、降溫速率：0.7～1.2℃/min
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min

五、電路板高低溫測(cè)試箱結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介：
1、外膽均采用S304鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型，外殼表面進(jìn)行噴塑處理，更顯光潔、美觀。
2、內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼(SS304)鏡面板。
3、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm
4、溫濕度循環(huán)系統(tǒng):采用特制空調(diào)型低噪音長(zhǎng)軸風(fēng)扇電機(jī)，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達(dá)強(qiáng)度對(duì)流 垂直擴(kuò)散循環(huán)。
5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉

六、電路板高低溫測(cè)試箱制冷系統(tǒng)控制
1、壓縮機(jī)：全封閉法國(guó)泰康1.5HP×2×1組
2、制冷方式：復(fù)疊式制冷
3、 冷凝方式：強(qiáng)制風(fēng)冷冷卻
4、制冷劑：R404A、R23(環(huán)保型)
5、系統(tǒng)管路均作通氣加壓48H撿漏測(cè)試.
6、加溫、降溫系統(tǒng)*獨(dú)立
7、內(nèi)螺旋式冷媒銅管

七、高低溫箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB10592－93 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB2423.1－2001試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2－2001試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法

八.  高低溫試驗(yàn)箱廠家高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品售后服務(wù)與保固
8-1.  保證書保固2年.
8-2  新機(jī)出廠溫度九點(diǎn)分布校驗(yàn).
8-3  維修備份零組件八年以上庫(kù)存.
九. 新機(jī)達(dá)交貴廠隨附資料
9-1.  操作說明書、維護(hù)手冊(cè).
9-2.  保證書、保養(yǎng)記錄卡.
9-3.  人員操作使用訓(xùn)練.